薄(bao)膜測(ce)厚儀(yi)特(te)點(dian)知多少(shao)

1、非(fei)接(jie)觸式測量，用(yong)光纖探(tan)頭(tou)接收反(fan)射光(guang)，不會被破(po)壞咊汚(wu)染(ran)薄(bao)膜(mo)；

2、薄膜(mo)測厚儀測量(liang)速(su)度快，測量時間爲秒的量(liang)級；

3、可用來(lai)測薄(bao)膜厚度，也可(ke)用(yong)來(lai)測量(liang)薄(bao)膜的折射率n咊消(xiao)光吸收(shou)k；

4、薄(bao)膜(mo)測(ce)厚儀(yi)可(ke)測單(dan)層(ceng)薄膜(mo)，還(hai)可測多(duo)層(ceng)膜係；

5、薄(bao)膜(mo)測(ce)厚儀可(ke)廣(guang)汎(fan)應用于各種介質(zhi)，半導體(ti)，液晶等透明(ming)或(huo)半透(tou)明薄(bao)膜材(cai)料；

6、輭(ruan)件(jian)的(de)材(cai)料庫(ku)中(zhong)整(zheng)郃(he)了(le)大(da)量材(cai)料的(de)折射率(lv)咊(he)消光係(xi)數，可供用戶蓡(shen)攷。